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YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試
發(fā)布時(shí)間： 2016-04-15 作者：上海洪富儀器儀表有限公司 來(lái)源：上海洪富儀器儀表有限公司 點(diǎn)擊次數(shù)： 次YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試
特點(diǎn)
此手持式儀器測(cè)量氧化膜的導(dǎo)納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。 測(cè)量范圍為 3 – 200 μS，測(cè)量槽直徑為 13 mm
通過(guò)可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器
上海洪富儀器儀表有限公司
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典型應(yīng)用領(lǐng)域該儀器極適合快速簡(jiǎn)便的對(duì)鋁材上的陽(yáng)極氧化膜密閉性進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 涂層的耐氣候性取決于導(dǎo)納（Y）
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